ГЛАВНАЯ   О ЗАВОДЕ   ВОЗМОЖНОСТИ   СИСТЕМА КАЧЕСТВА   СОТРУДНИЧЕСТВО   ПРОДУКЦИЯ   КОНТАКТЫ  
                                                                              

111250, г.Москва, ул.Авиамоторная, д.53
тел.:(495)673-93-94
е-
mail: zavodrkp@mail.ru

   
Качество, проверенное космосом
    Актуально                                                                                                                                                                                            Информация    

 

Заказчикам
Завод ракетно-космического приборостроения
выполняет заказы по изготовлению опытно-экспериментальной и серийной высокотехнологичной продукции
Подробнее..>>

   

Области применения FISCHERSCOPE X-RAY XDVM-µ

Позволяет проводить высокоточные измерения толщин покрытий в диапазоне от 0,02 до 50 мкм (максимум до 100 мкм для некоторых отдельных металлов). Анализирует состав материалов от Z(A1)=13 до Z(U)=92. Полезный объем измерительной камеры - ширина=370мм, глубина=320мм, высота=135мм. Для более точных определений толщин очень тонких покрытий и анализа электролитов необходимы эталонные образцы (с точными известными размерами) для калибровки установки.

1. Измерение толщин покрытий:

  • измерение очень тонких многослойных металлосодержащих покрытий,
  • измерение толщины металлосодержащего покрытия (например, гальванически нанесенного Ag), на корпусах, переходах и других изделиях,
  • определение равномерности нанесения металлосодержащих покрытий на больших поверхностях (корпусах и т.д.),
  • определение толщин контактных площадок, дорожек на печатных платах, тонких проводов и проводников,
  • измерение толщин покрытий на выводах электронных компонентов.

2. Анализ состава материалов:

  • анализ гальванических и химических покрытий,
  • анализ элементов солнечных батарей,
  • анализ состава материалов в процентном соотношении на наличие в нем металлов и некоторых неметаллов,
  • анализ и определение неизвестных материалов, металлов, неметаллов (некоторых) по спектру (поиск и анализ металлов в неметалле и т.д.),
  • оценка металлов (чистота и т.д.), оценка золота и серебра,
  • проверка сплавов по кол-ву содержащихся в нем в % соотношении металлов,
  • оценка и анализ припоев,
  • оценка ювелирных изделий.

3. Анализ электролитов:

  • анализ растворов и электролитов (солей), определение концентрации металлов в них (результат выдается в г/л).

Тестирование печатных плат, проводниковых цепей со структурами особо малых размеров, растровое сканирование, например покрытий жестких дисков, тонких проводов.

 

   

Продукция завода
 Широкий спектр изделий - от ЧИП-компонентов до автоматизированных комплексов.
Подробнее...
>>

Возможности
Самое современное металлообрабатывающее оборудование и технологии изготовления и монтажа микроэлектронных компонентов
Подробнее...
>>